Исследуйте физические пределы в микро- и нанометровых масштабах
Проектирование полупроводниковых устройств
& характеристика
От анализа мощности полупроводниковых устройств до определения характеристик высокоскоростных цифровых схем — мы предлагаем измерительные решения, разработанные с учетом ваших потребностей.
Проблемы и трудности
Проблемы, связанные с измерениями
в сфере научно-исследовательских и опытно-конструкторских работ в области полупроводников
Научно-исследовательские и опытно-конструкторские работы в области полупроводников подталкивают к преодолению физических ограничений. Для измерения крайне малых токов, определения характеристик сверхбыстрых переходов сигналов и оценки надежности в сложных тепловых условиях требуются высокоточные приборы, стоимость которых изначально высока.
Определение силы тока
Для проведения измерений может потребоваться разрешение по току в диапазоне наноампер (нА) или даже фемтоампер (фА), что делает приобретение необходимого оборудования значительной инвестицией.
Испытания высоковольтных устройств с широкой запрещенной зоной
Устройства на основе нитрида галлия (GaN) и карбида кремния (SiC) требуют динамического анализа при высоких напряжениях, превышающих возможности многих приборов общего назначения.
Верификация высокоскоростных SerDes
Оценка характеристик интерфейсов, таких как PCIe 5.0 и 6.0, на физическом уровне предъявляет к осциллографам высокие требования к пропускной способности.
Давление на бюджеты, выделенные на оборудование
Стартапы, занимающиеся дизайном, сталкиваются с высокими начальными затратами на оборудование, быстрыми технологическими изменениями и значительной амортизацией.
Рекомендуемые инструменты
Категории инструментов для
характеристика устройства
Создать высокоточную лабораторию для определения характеристик и валидации устройств.
Единицы измерения источника
Объединяя в себе функции источника питания и мультиметра, устройства SMU обеспечивают измерения зависимости тока от напряжения (I–V) с высоким разрешением, что является основой определения характеристик полупроводниковых устройств.
Точность измерения тока на уровне наноамперПосмотреть категорию
Анализаторы параметров полупроводников
Несколько подключаемых модулей обеспечивают поддержку параллельного определения характеристик «емкость–напряжение» (C–V) и импульсных характеристик при тестировании на уровне пластин.
Режимы синхронизированных измеренийПосмотреть категорию
Цифровые осциллографы с высокой пропускной способностью
Проведите тестирование на соответствие требованиям физического уровня для высокоскоростных сигналов DDR и PCIe с целью проверки целостности сигнала.
Пол с низким уровнем шума, быстрая выборкаПосмотреть категориюПример применения
Тестирование полупроводников на практике
Узнайте, как решения TXRX помогают решать реальные задачи в области измерений.
Характеристика устройств на основе GaN
Определение статических характеристик силовых устройств на основе GaN в диапазоне субмикроампер
Стартапу, занимающемуся разработкой интегральных схем импульсных источников питания на основе нитрида галлия (GaN), требовались точные измерения напряжения пробоя и тока утечки в своих силовых устройствах.
Используя матрицу прецизионных источников-измерителей (SMU), поставленную компанией TXRX, заказчик провел испытания на выдерживаемое напряжение до 3 000 В и зафиксировал колебания статического тока на уровне 10 фА, что помогло подтвердить надежность устройства.
- До 3 000 В
- Испытания на выдерживаемое напряжение в рамках данного проекта по GaN
- 10 фА
- Колебания статического тока, зафиксированные в рамках данного проекта
Поддержка масштабируемых тестов
Масштабируемое тестирование для быстро развивающихся сложных процессов
Снижение инвестиций в НИОКР
Снизить порог входа для стартап-команд, занимающихся научно-исследовательскими и опытно-конструкторскими работами.
Сокращение сроков поставки оборудования
Наличие запасов позволяет незамедлительно расширить лабораторию.
Гибкие условия аренды
Выберите краткосрочную или долгосрочную аренду в соответствии с потребностями вашего проекта.
Опыт работы с различными брендами
Опыт в настройке и синхронизации приборов компаний Keysight, Keithley и NI.